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半导体是什么?导体、绝缘体与半导体的区别

半导体与电子 90℃ 0

半导体是一类导电性质能够通过掺杂、外加电场、光照等方式调节的材料,硅是常见例子。它通常被介绍为导电能力介于导体和绝缘体之间,但“处于中间”只描述了部分特征。电子器件真正利用的是:能够改变材料中参与导电的载流子数量和分布,并通过结构设计控制电流。因此,“半导体”并不是只能通过一半电流,也不是把导体与绝缘体各混合一半。

呈现规则芯片区域与表面光泽的半导体晶圆概念图
晶圆是制造半导体器件的重要载体。图为主题概念示意,不代表特定厂商、制程节点或实际生产批次。

在一套电子系统中,铜导线负责连接和传输电流,绝缘层隔开不应连通的部分,半导体器件则可以承担整流、开关、放大或光电转换。理解这些作用,需要先弄清电荷怎样在材料中移动,再看掺杂与PN结怎样改变这种移动。

导体、绝缘体与半导体的区别是什么?

比较材料的导电性质时,常用电阻率,它描述材料在特定温度等条件下对电流的阻碍程度;一段具体导线的电阻还受长度和截面积影响。同一种铜线加长后电阻会增大,却不会因此变成半导体。三类材料的差别也不能只用某个零件的电阻大小判断。

材料类别导电的主要特点典型用途
导体,如铜、铝通常已有大量能响应电场的电子,容易形成电流,不需要先靠少量掺杂建立导电能力。导线、互连、电极,用于连接电路和传输电流。
绝缘体,如玻璃、常见绝缘塑料在通常使用条件下,可参与导电的载流子很少,电流受到较强抑制。电气隔离、支撑和保护,减少不希望出现的导电通路。
半导体,如硅载流子数量及分布可以有目的地调整,形成不同导电区域,并对电场或光照等条件作出响应。制造二极管、晶体管、光电器件和集成电路中的器件结构。

这里比较的是典型行为,而非三条互不重叠的电阻率区间。半导体的电阻率可随掺杂浓度等条件大幅变化;绝缘体也可能在强电场下击穿。对半导体而言,重要的是能够利用这些物理性质制造功能结构,而不只是得到一种“电阻适中”的材料。

电子、空穴和带隙怎样影响导电?

载流子是参与电荷输运的对象。半导体中常见的两种载流子是电子和空穴。电子带负电;空穴是电子离开原有占据状态后留下的缺位。当邻近电子不断填入缺位时,缺位看起来就在向相反方向移动,可以等效为带正电的载流子。空穴不是晶体里挖出的孔,也不是移动的正离子。

能带提供了另一种理解方式:晶体中的电子只能处于允许的能量状态,许多相近状态构成能带。价带中的电子获得足够能量进入导带后,可以参与导电,同时在价带留下空穴。价带顶与导带底之间的能量差叫带隙,也称禁带宽度;它是能量间隔,不是材料内部的空间缝隙。

东芝的能带图教程对照了金属、半导体和绝缘体。金属具有部分占据的能带或能带重叠,电子较容易响应电场;典型绝缘体带隙较大,普通条件下难以产生足够载流子;半导体的能带结构使热激发、光激发和掺杂对载流子的调节成为可能。

因此,即使没有有意掺杂,半导体在一定温度下也可以有电子和空穴。实际导电能力不仅取决于载流子有多少,还取决于它们在材料中移动的能力;温度会同时影响载流子的产生与运动,不能把所有半导体都概括为“越热越导电”。

掺杂怎样形成n型与p型半导体?

掺杂是在半导体中有控制地引入特定杂质原子,用来改变载流子浓度及类型。以硅为例,硅原子有四个价电子,在晶体中与邻近原子形成共价键。掺入价电子数不同的元素,便能改变可参与导电的电子或空穴数量。

n型半导体以电子为多数载流子。硅中掺入磷等五价元素后,四个价电子参与周围的成键,多出的一个电子较容易脱离束缚而参与导电。这类杂质称为施主;失去该电子后,它成为带正电、固定在晶格位置附近的施主离子。

p型半导体以空穴为多数载流子。硅中掺入硼等三价元素时,成键所需电子出现缺额。杂质接受邻近价带电子后,留下可参与输运的空穴,自身成为带负电的受主离子。东芝的n型与p型半导体教程分别用磷、硼掺杂说明了这两种情况。

n型仍有少量空穴,p型仍有少量电子,它们称为少数载流子。字母n和p说明的是多数载流子的类型,不表示整块材料带负电或正电:通常均匀的材料整体仍呈电中性,移动载流子与离化杂质等电荷相互平衡。胡正明《现代半导体器件》第1章的电中性关系对此作了明确区分。固定杂质离子与可移动载流子的区别,也是理解PN结的关键。

PN结怎样形成,为什么正反向电流不同?

扩散与复合形成耗尽区和内建电场

在同一半导体中形成相邻的p型区和n型区,交界处就构成PN结。最初两侧载流子浓度不同:n区电子较多,会向p区扩散;p区空穴较多,会向n区扩散。扩散并不需要先接电源,浓度差本身就会促使载流子重新分布。

越过交界的电子和空穴发生复合,交界附近的可移动载流子减少,留下未被移动电荷抵消的固定杂质离子:n侧主要是正的施主离子,p侧主要是负的受主离子。由这些空间电荷建立的电场指向n侧到p侧,称为内建电场。它把电子推向n侧、空穴推向p侧,因而阻碍多数载流子继续向对侧扩散。

这片移动载流子显著减少的区域称为耗尽区,其中晶格、原子和杂质离子仍然存在,并不是一条真空缝隙。达到热平衡时,浓度差引起的扩散与电场引起的漂移相互平衡,净电流为零,微观运动却没有停止。内建电场对应的势垒,决定了多数载流子跨越结区的难易程度。上述关系可对照东芝《小信号二极管》应用说明的PN结能级分析及胡正明的PN结课程材料。

正向偏压降低势垒,反向偏压提高势垒

正向偏置是p侧接电源正极、n侧接负极。外加电压抵消一部分结区的内建势垒,耗尽区变窄。n区电子更容易进入p区,p区空穴也更容易进入n区,跨结注入随之增加;外部电路不断补充和移走电荷,形成持续的正向电流。进入对侧的载流子还会继续扩散并复合,不是穿过交界后就停止运动。

反向偏置是p侧接负极、n侧接正极。外加电压使结区势垒升高,耗尽区变宽,多数载流子跨结受到抑制。这并不等于完全没有电流:少数载流子及结区产生的载流子等仍可形成反向漏电流。反向电压增大到击穿条件时,电流又会明显增加,已不能用“反向截止”概括。三垦电气的二极管电气特性说明分别列出了反向漏电流和击穿电压。

PN结正向偏置使势垒降低耗尽区变窄,反向偏置使势垒升高耗尽区变宽的原理示意
图中P区在左、N区在右,比较同一PN结在正反向偏置下的典型变化,不按实际比例绘制。灰色耗尽区仍是半导体材料;反向漏电和击穿条件需与普通反向截止状态区分。

所以,PN结的整流特性来自两种偏压对势垒和载流子注入的不同影响,而不是材料天生只允许某个方向的电子移动。器件的电流也不会在一个适用于所有材料、温度和电流条件的固定电压上突然由零变大。

半导体器件怎样实现整流、开关和光检测?

二极管利用不对称的电流特性整流

把PN结引出电极,就可以形成一种二极管。交流电压换向时,正反向电流差异使电路呈现单向导电特性;通过适当的二极管电路,可以把交流变为方向一致的脉动电流,再配合滤波等电路处理。整流因此是整个电路利用器件特性的结果,并不是一块硅材料单独完成全部电源功能。二极管也有金属—半导体结等其他结构,PN结是其中的重要类型。

MOSFET通过栅极电场控制导电沟道

晶体管提供了额外的控制端。以增强型n沟道MOSFET为例,栅极与半导体之间隔着绝缘层;施加适当的栅源电压后,栅极电场吸引电子聚集到绝缘层下方的p型表面,形成可连通源极和漏极的反型沟道。有漏源电压时,电流便可沿这条通路流动。栅压降低后,沟道中的电子减少,导电能力随之改变。

东芝的MOSFET结构与工作原理教程用这一过程解释栅压如何控制导通。这里改变的是局部载流子的分布,并没有每开关一次就重新掺杂一次材料。利用受控的导通与关断,可以构成逻辑电路或电源开关;放大电路则利用特定工作区间中控制电压与电流之间的关系。

光电二极管把光生载流子转成电信号

光照也能产生载流子。在硅光电二极管中,能量合适且被吸收的光子可使电子进入导带,留下空穴。结区电场将其中的电子和空穴向不同方向分离,邻近区域产生的载流子也可能扩散到结区并被收集,接入外部电路后形成可测量的光电流。

滨松光子《Si photodiodes》技术资料说明了这一光电转换过程。配合光学结构和读出电路,它可以用于检测光强变化,例如条码读取或编码器中的光信号检测。这里利用的是“光产生载流子、结区帮助收集”的能力,与MOSFET利用栅极控制沟道的方式不同。

半导体材料、器件与集成电路是什么关系?

这三个概念处于不同层级。材料提供能带、载流子及可加工的物理基础,如硅;器件通过掺杂区域、结、绝缘层和电极等结构获得特定功能,如二极管、MOSFET;集成电路把许多器件及其互连组织在一起,完成逻辑运算、存储或模拟信号处理等任务。相关术语可继续阅读集成电路、芯片与半导体的关系。

从这个层次看,半导体的重要性在于它能把材料内部的电荷行为变成可设计的电路功能:掺杂建立不同区域,结与电场管理载流子运动,光照等输入又能改变载流子产生。理解这条因果关系,比把半导体记成“导电能力居中”更接近它在电子系统中的实际作用。

参考资料

  • 东芝电子元件及存储装置:能带图、n型与p型半导体、MOSFET结构与工作原理教程;《Surface Mount Small Signal Diode》应用说明。
  • 胡正明:《Modern Semiconductor Devices for Integrated Circuits》第1章及第4章课程材料。
  • 三垦电气:Diodes;Electrical Characteristics of Diodes。
  • 滨松光子:Si photodiodes技术资料,Operating principle与Applications。
标签: 半导体

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